arxiv2026-09-18arXiv:2609.21593

A benchmark dataset and baseline methods for four-dimensional STEM diffraction patterns

Yuyan Guan, Haoran Zhang, Zian Mao, Antong Yang, Caifei Li

実装難易度

Hard

推論・学習コスト

Low

想定用途

検出

Paper実装なし

概要

Abstract

Four-dimensional scanning transmission electron microscopy (4D-STEM) records a two-dimensional diffraction pattern at each electron-probe position, yielding spatially resolved reciprocal-space information but large, heterogeneous data volumes. Here we describe 4D-ImageNet, a collection of 174,000 diffraction patterns comprising 145,000 experimental patterns selected from 29 acquisitions and 29,000

何が新しいか

Four-dimensional scanning transmission electron microscopy (4D-STEM) records a two-dimensional diffraction pattern at each electron-probe position, yielding spatially resolved reciprocal-space…

何に使えるか

検出

実装情報

Paper URL
あり

実装チェックリスト

実装または配布ページ

要確認

Paper onlyの可能性があるため再実装前提で確認してください。

一次情報リンク

OK

Paper

検証しやすさ

要確認

公式実装が見つからないため、論文から再実装する前提です。

計算資源

OK

小規模データならCPUまたは単一GPUで検証しやすい領域です。

ライセンス

未取得

配布元のLICENSE、モデルカード、Paperの利用条件を確認してください。

商用利用

未取得

研究利用限定、データセット由来制限、API規約の有無を確認してください。

自社データで試すなら

製造業・材料開発のExcel/CSVデータに落とし込むための最初の手順です。

製造業適性 69
MI向き品質予測/異常検知
  1. 1まずExcel/CSVの実験条件、組成、物性値を1行1実験の表に整理します。
  2. 2LightGBMやRandom Forestなどのベースラインを先に作り、この手法と比較します。
  3. 3評価指標はR2/RMSE、AUC、異常検知の再現率、実験回数削減率など、現場の意思決定に近いものを選びます。
  4. 4SHAPや特徴量重要度で、効いている因子が物理・化学・工程知識と矛盾しないか確認します。

実装難易度

Hard - 公式実装が見つからないため、論文から再実装する前提です。

必要リソース

  • GPU目安: Low
  • データセット: 論文・リポジトリ側の指定を確認してください。
  • 学習要否: 再学習や評価環境の準備が必要になる可能性があります。
  • 小規模データならCPUまたは単一GPUで検証しやすい領域です。

実務で使う場合の注意点

  • ライセンスと商用利用条件は、Paper / GitHub / Hugging Face の配布元で確認してください。
  • 精度、再現性、計算コストはデータセットや評価条件に依存します。
  • 個人情報や機密データを扱う場合は、入力データの保存先と外部API利用条件を確認してください。

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